XRD 图谱分析在材料科学中，检测金属、陶瓷、半导体等晶体结构；地质勘探领域，鉴别矿石矿物成分；文物鉴定时，分析古代器物材质。各领域借助它，获取物质微观信息，助力材料研发、资源勘探、文物保护等工作。
测试项目
主要测试项目有晶体结构测定，确定原子排列方式；物相分析，识别材料中存在的物相；晶格参数测量，获取晶体晶格常数；晶粒尺寸计算，评估晶粒大小。此外，还有残余应力分析。
检测仪器
常用检测仪器为 X 射线衍射仪，发射 X 射线并采集衍射图谱；探测器，接收衍射信号；数据处理软件，分析图谱数据。搭配样品制备设备，确保样品符合测试要求。
检测方法和测试标准
检测方法依项目选仪器按流程操作。测试标准有材料科学行业的 GB/T 32993 - 2016 微束分析 薄晶体厚度和晶体取向的测定 电子背散射衍射法；地质勘探相关标准如 GB/T 1558 - 2009 硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法；文物鉴定领域参考标准如 WW/T 0080 - 2017 馆藏文物青铜器的分析技术 便携式 X 射线荧光能谱仪分析方法（部分涉及 XRD 相关原理及应用），确保 XRD 图谱分析结果可靠。
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